南京伟测半导体申请芯片测试方法和系统专利，提高测试效率
金融界2025年3月21日消息，国家知识产权局信息显示，南京伟测半导体科技有限公司申请一项名为“芯片测试方法和芯片测试系统”的专利，公开号CN119644121A，申请日期为2025年2月。
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专利摘要显示，本公开提供芯片测试方法、芯片测试系统、芯片测试机、及计算机可读存储介质，所述芯片测试方法是将质量保证测试结合于成品测试中，即，在成品测试模式中对各个待测的芯片逐一进行成品测试，且对通过成品测试的芯片进行计数，直至通过成品测试的计数值满足质量保证测试所要求的抽样频率所对应的设定值时，将成品测试模式转换为质量保证测试模式从先前成品测试模式中通过成品测试的已测的芯片中抽样以进行质量保证测试相对于相关技术本公开提供的芯片测试方法是将成品测试和质量保证测试结合于一体的，通过自动化的方式进行质量保证测试，不需要生产线在完成成品测试之后再额外重新进行质量保证测试流程，提高测试效率。
天眼查资料显示，南京伟测半导体科技有限公司，成立于2021年，位于南京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本25000万人民币，实缴资本25000万人民币。通过天眼查大数据分析，南京伟测半导体科技有限公司参与招投标项目4次，专利信息22条，此外企业还拥有行政许可16个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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